显微分析进阶技能——STEM扫描透射电镜技术讲座即将开讲

电子显微技术在材料表面分析领域有着重要应用，我们一般常用的显微分析手段有透射电子显微镜(TEM)，扫描电子显微镜(SEM)，原子力显微镜（AFM）、电子背散射衍射（EBSD）等等（想要了解更多以上分析技术，可以下载材料人APP学习相关课程）。

现在，材料人即将推出STEM技术线上课程，着眼于“STEM可以帮助我获得什么信息”以及“如何得到我想要的信息”，为大家讲解STEM的基本知识和技能。

课程内容

第一讲 STEM基础知识

i.什么是STEM？有什么优缺点？

ii.STEM构造（用户需要知道的关键部分）及名词解释

iii.为什么用电子？什么决定了分辨率？

iv.STEM和TEM有什么区别？如何选择？

v.什么是“球差电镜”？

vi.透镜需要什么样品？如何制备？

第二讲 什么是高角环形暗场像HAADF和Z衬度？

i.传统非补正模式

ii.球差补正器给HAADF-STEM带来的飞跃

第三讲 其他成像模式之LAADF、ABF和BF

第四讲 STEM高分辨像的模拟

第五讲 分析实例

i.HAADF-STEM在有序合金中的应用

1)块体材料篇

2)纳米材料篇

ii.用ABF看轻元素

上课时间

第一讲 2019年8月15日 已播出

第二讲 2019年8月23日10：00

后续课程每周更新两节

讲师介绍

马老师，海外知名大学博士，现为美国某top10大学任透射电子显微镜仪器科学家。长期从事透射电子显微镜对材料的表征工作，熟悉各种透射电镜相关技术，并有丰富的讲授经验。利用透射电子显微镜技术发表过多篇高水平学术论文。

听课方法

在http://app.cailiaoren.com/ 或应用宝（各大应用商店也可）下载材料人APP，在APP内搜索“STEM”，即可进入。（IOS版APP已经上线，课程购买方式请微信咨询客服）

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课程售价

50元

联系方式

如有疑问请添加客服微信（微信号：qingcaikefu）。